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SEM-FIB综合分析平台
产品: 浏览次数:0SEM-FIB综合分析平台 
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-12-07
 
详细信息
 SEM-FIB是一个强大的FIB-SEM综合分析平台,专门设计来应对半导体和材料表征中具挑战性的物理失效分析应用,具有的分析、加工精度和加工效率。  
SOLARISX采用的新一代Triglav™型SEM镜筒,配置了新开发的探测器系统,具有优异的表面灵敏度和衬度;另一方面,新的iFIB+™HB镜筒进一步的扩展了Xe等离子F旧应用领域,提升了大体积样品微加工和3D微量分析的能力,并且极大地缩短了加工时间,提高了工作效率。  
iFIB+E值等离子源FIB镜筒  
Xe等离子与Ga离子相比,有更大的质量和原子半径,澱射速度是传统Ga离子源的50倍以上,尤为适合长耗时和大体积的铢削任务。Xe等离子还具有注入效应小、不形成金属间化合物、不改变加工区域电学性质等优点。  
TESCAN是个推出霞气等离子FIB-SEM澈的厂家,了^^品,TESCANSOLARISX具有业内超高的束流强度和-大的视野范围(FoV)  
•SEM分辨率:0.6nm@15kV  
•FIB分辨率:<15nm@3QkV  
•电子信号选择检测功能,帮助用户获得更好的表面灵敏度和衬度  
•Xe等离子镜筒可提供高达2pA的超高离子束流,并保持束斑质量  
•超高加工效率,在30kV下-大视场范围超过1mm  
•自适应束斑优化功能,有利于更好的进行EDS、WDS和EBSD等分析  
https://www.chem17.com/st543966/list_2393216.html  
http://www.shleiwei.com/Products-37269127.html 
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